量具I型研究样品可以使用精密量块代替,但需要注意选择配套量块组合,控制接触面积比例和接触定位等,从而使量测结果符合技术要求。
一、I型研究样品结构特点
1、高度比宽度大的细长外形结构。
2、两端平行度和棱边垂直度高。
3、常使用测长仪和千分表组合测量。
二、使用量块代替I型研究样品的注意事项
1、量块总高匹配研究样品高度。
2、量块宽度比不超过3:1,保证抗倾覆强度。
3、单块最大高度不超过30mm,减少形变。
三、量块组合接触定位的规范要求
1、量块组合之间需平行垫片定位。
2、接触面积控制在80%以下,减少位置偏差。
3、高精度抛光接触面,形成稳定接触。
四、使用量块组时的监督检验
1、组合稳定性检验,防止坍塌。
2、重复组合xr测量结果一致性检验。
3、与标定I型研究样本对比检验。
使用量块代替I型研究样品是可行的,但必须控制关键影响因素,从多角度保证测量结果的准确可靠。
